Misurazione della tolleranza sul profilo della superficie

Quando si misura la tolleranza sul profilo di una superficie, si verifica se la superficie curva di una parte progettata viene realizzata come da progetto specifico.
Diversamente dalla tolleranza sul profilo di una linea, la misurazione della tolleranza sul profilo di una superficie coinvolge l'intera curvatura specificata.

Esempi di disegno

Misurazione della tolleranza sul profilo della superficie

Utilizzo di un sistema di misurazione del profilo

Utilizzo di un sistema di misurazione del profilo
a
Target
b
Sistema di misurazione del profilo

Posizionare lo stilo sul punto di inizio della misurazione del target e specificare la lunghezza di misurazione da effettuare.
Il sistema esegue l'analisi utilizzando i dati misurati e i dati teoricamente corretti registrati nel sistema e produce il valore P/V (i valori massimo e minimo oltre alla deviazione standard σ dalla feature teoricamente corretta).

SVANTAGGI

A causa del limitato intervallo mobile dello stilo, la misurazione di target di grandi dimensioni può essere difficile.
Lo stilo non può accedere ai punti di misurazione localizzati in una posizione difficile da raggiungere.
A causa del carico (pressione di misurazione) dello stilo, si può verificare la deformazione della superficie di misurazione, causando un errore nel risultato di misurazione.

Utilizzo di una macchina di misurazione a coordinate (CMM)

Utilizzo di una macchina di misurazione a coordinate
a
Target
b
Piastra di superficie

La posizione dello stilo può essere modificata per misurare il target in qualsiasi angolo o in qualsiasi localizzazione.
Poiché lo stilo entra solo leggermente in contatto con il punto di misurazione, non sussiste il problema della deformazione della superficie di misurazione causata dal carico (pressione di misurazione) dello stilo.
In più, lo stilo consente una misurazione rapida e stabile, ad alta precisione.

Schermata di misurazione
Schermata di misurazione
a
Risultato di misurazione della tolleranza sul profilo

INDICE